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　　硅光電探測(cè)器的工作原理是當(dāng)加在壓敏電阻兩端的電壓超過(guò)其閾值時(shí)，即產(chǎn)生過(guò)沖電流，將功率變換成熱量。由于內(nèi)部熱對(duì)流的傳輸，產(chǎn)生的熱量迅速被傳到散熱片上，使壓敏電阻溫度降低，壓敏電阻的阻值降低，當(dāng)壓敏電阻的阻值降低到低于其閾值時(shí)，電路又使正弦波半周加到壓敏電阻兩端，電路反復(fù)循環(huán)上述過(guò)程。通過(guò)碳?；驕孛敉苛夏茏柚篃o(wú)過(guò)壓時(shí)電路接通，從而控制了在過(guò)壓恢復(fù)正常電平時(shí)不受浪涌的損害。
 

　　硅光電探測(cè)器可能會(huì)出現(xiàn)以下故障：
 

　　1、探測(cè)器靈敏度下降：這可能是由于光電探測(cè)器老化、被污染或者灰塵積累等原因?qū)е碌摹?br /> 

　　2、探測(cè)器失靈：這種故障類(lèi)型通常由于探測(cè)器元件損壞，例如光敏二極管受損或失效。
 

　　3、信號(hào)異常：光電探測(cè)器收到的信號(hào)可能會(huì)出現(xiàn)異常，例如噪音、干擾和信號(hào)漂移等，這可能是由接線(xiàn)不當(dāng)或電源干擾等原因引起的。
 

　　美國(guó)OSI公司(OSI Optoelectronics)是一家專(zhuān)業(yè)的光電產(chǎn)品生產(chǎn)商，其前身為成立于1967年的美國(guó)UDT公司(UDT Sensors)，在光電產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及應(yīng)用等領(lǐng)域都有著豐富的經(jīng)驗(yàn)，為NASA及眾多世界公司提供性能優(yōu)良的產(chǎn)品。